| 品牌 | 遠(yuǎn)梓 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
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人工晶狀體光學(xué)傾角的測(cè)試原理：設(shè)備包括一套由低摩擦系數(shù)材料制造而成的內(nèi)徑誤差在±0.04mm以下的圓柱孔座和一臺(tái)為0.01mm的光學(xué)顯微鏡、一套位移精度保證到0.01mm的X/Y工作臺(tái)組成。用于測(cè)試人工晶狀體在一個(gè)處方直徑內(nèi)的光學(xué)傾角。按標(biāo)準(zhǔn)提供一套符合要求的EXCEL格式測(cè)試報(bào)告軟件，其中已經(jīng)嵌入相關(guān)計(jì)算公式。*符合YY0290-2008附錄D相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)完成。
| YY0290-H | 人工晶狀體襻抗拉強(qiáng)度測(cè)試儀 |
| YY0290-G | 人工晶狀體動(dòng)態(tài)疲勞耐久性測(cè)試儀 |
| YY0290-F | 人工晶狀體壓縮力衰減與壓縮力測(cè)試儀 |
| YY0290-W | 人工晶狀體壓縮力下軸向位移測(cè)試儀 |
| YY0290-C | 人工晶狀體光學(xué)偏心的測(cè)試 |
| YY0290-D | 人工晶狀體光學(xué)傾角的測(cè)試 |
| YY0290-D | 人工晶狀體接觸角的測(cè)試 |
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